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SRM2134硅深度剖面標準中砷植入標準品NIST旨在用于通過二次離子質譜 (SIMS) 分析技術校準對硅基質中微量和痕量砷的二次離子響應。
SRM 2135c Ni/Cr薄膜深度剖面標準品NIST主要用于校準表面分析中的濺射深度標度和腐蝕速率。
SRM2137硅中硼植入深度剖面濃度標準品NIST旨在用于通過二次離子質譜 (SIMS) 分析技術校準對硅基質中微量和痕量硼的二次離子響應
SRM 2139 鋅鋁合金標準品(美國NIST)旨在用于通過二次離子質譜 (SIMS) 分析技術校準對硅基質中微量和痕量硼的二次離子響應。
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